一本色道久久综合亚洲精品,极品美女扒开粉嫩小泬18P,黄网站欧美内射,亚洲av中文无码乱人伦在线视色

服務熱線:
18818017858
產(chǎn)品目錄/ PRODUCT MENU
技術(shù)支持

您現(xiàn)在的位置:首頁  >  技術(shù)文章  >  芯片可靠性如何測試?

芯片可靠性如何測試?

更新時間:2018-12-28瀏覽:1873次

一般來說,可靠度是產(chǎn)品以標準技術(shù)條件下,在特定時間內(nèi)展現(xiàn)特定功能的能力,可靠度是量測失效的可能性,失效的比率,以及產(chǎn)品的可修護性。根據(jù)產(chǎn)品的技術(shù)規(guī)范以及客戶的要求,我們可以執(zhí)行MIL-STD, JEDEC, IEC, JESD, AEC, and EIA等不同規(guī)范的可靠度的測試。

測試機臺種類
高溫貯存試驗 (HTST, High Temperature Storage test)
低溫貯存試驗(LTST, Low Temperature Storage test)
溫濕度貯存試驗 (THST, Temperature & Humidity Storage test)
 溫濕度偏壓試驗 (THB, Temperature & Humidity with bias test)
高溫水蒸汽壓力試驗 (Pressure Cooker test (PCT/UB-HAST)
高加速溫濕度試驗 (HAST, Highly Accelerated Stress test )
溫度循環(huán)試驗 (TCT, Temperature Cycling test)
溫度沖擊試驗 (TST, Thermal Shock test )
高溫壽命試驗 (HTOL, High Temperature Operation Life test )
高溫偏壓試驗 (BLT, Bias Life test)
回焊爐 (Reflow Test)

上海寶試檢測設備有限公司 版權(quán)所有    備案號:滬ICP備18008183號-3

技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng)    管理登陸    網(wǎng)站地圖

聯(lián)系電話:
18818017858

微信服務號